白光干涉3D形貌测量仪

产品简介
白光干涉3D形貌测量仪具有专业的测量能力，可在几秒内就完成整个视场的扫描得到测量样品的3D图形与高度数据，检测速度与深度量测能力优于逐点逐面扫描的共焦扫描显微镜，3D图形量测能力又优于扫描式电子显微镜的2D平面检测能力，且不需要使用电子束或雷射，开机快又安全，维护成本更低。

产品型号：PZ-WLI-150

厂商性质：生产厂家

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实验检测仪器

表面3D轮廓仪三维光学形貌仪材料试验机光学轴类测量仪超景深三维显微镜粗糙度测量仪共面性测试仪接触角测定仪一键式快速测量仪精密测量投影仪 CNC全自动影像仪 3D三坐标测量机快速尺寸测量仪测量金相显微镜刀具投影测量仪金相光学显微镜磨刀机显微镜测量分析显微镜视频测量显微镜金属材料显微镜高倍金相显微镜光学轮廓显微镜水滴角界面测量仪界面张力测量仪超低界面张力仪平面度测试仪卧式影像测量仪精密影像测量仪

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产品简介：

白光干涉3D形貌测量仪结合相移垂直扫描的前沿技术与显微光干涉技术，不需要复杂光路调整程序，即可在非接触、无破坏、普通大气环境下完成3D纳米深度的表面检测分析不仅提供3D表面形状和表面纹理的分析，更可提供镜面表面的纳米级粗糙度和台阶高度分析
并追溯至IS0国际规范。白光干涉3D形貌测量仪具有的测量能力，可在几秒内就完成整个视场的扫描得到测量样品的3D图形与高度数据，检测速度与深度量测能力优于逐点逐面扫描的共焦扫描显微镜，3D图形量测能力又优于扫描式电子显微镜的2D平面检测能力，且不需要使用电子束或雷射，开机快又安全，维护成本更低。

白光干涉3D形貌测量仪

无论是抛光面，还是粗糙面，甚至是高透明材质(例如石英),只要有超过1%以上的反射率就能够被检测。适合各种材料与微元件表面特征和微尺寸检测，应用领域包含:触控面板(Touch Panel)
太阳能板(Solar Cell)
晶圆(Silicon Wafer or Sapphire Wafer)
光碟/硬碟( DVD Disk /Hard Disk)
微机电元件(MEMSComponents)
平面液晶显示器(LCD)
高密度线路印刷电路板(HDIPCB)
IC封装(IC Package)
精密微机械元件或模具(Micro MechanicalPartsorMode)以及其它材料分析与元件微表面研究。